XRD測試16
發表時間：2023-08-20 08:37 CT斷層掃描X射線衍射系統 性能指標：靶材：Cu靶（Kα1=1.5406 A）功率：2.2 kW 最大工作電壓：40 kV 最大工作電流：45 mA 測角儀：掃描范圍：0.2°~140° 儀器角度分辨率：±0.0001
主要應用：對樣品進行物相結構分析及晶粒尺寸、納米粉末粒度分布和薄膜厚度測定，廣泛應用于粘土礦物、水泥建材、環境粉塵、化工制品、藥品、巖礦和聚合物等領域。
樣品要求：固體粉末，研磨均勻（過200目的篩子），顆粒大小：20微米左右
詳細測試要求與應用，請咨詢工作人員，聯系電話：18037187088
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